AOI检测机是我司针对芯片在新切割工艺 制程所开发的，用于管控切割尺寸和外观等质 量问题的视觉检测设备。采用自主独立开发的 视觉系统和算法软件，从正反两面检测芯片切 割质量。可单机作业，也可联机组线生产；兼 容人工和天车上下料。
关键参数
UPH:>200PCS/H
生产合格率：≥99.8%
AOI检测精度：5 μm
产品尺寸：L100xW72mm(可定制)  设备尺寸：L1000xW1100xH1800mm